完整後設資料紀錄
DC 欄位語言
dc.contributor.author王祈順en_US
dc.contributor.authorWang, Qi-Shunen_US
dc.contributor.author盧志遠en_US
dc.contributor.authorLu, Zhi-Yuanen_US
dc.date.accessioned2014-12-12T02:02:39Z-
dc.date.available2014-12-12T02:02:39Z-
dc.date.issued1982en_US
dc.identifier.urihttp://140.113.39.130/cdrfb3/record/nctu/#NT714428018en_US
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11536/51739-
dc.description.abstract本文發展出修正的多數載子在複晶半導體中之傳導模型,分別括以下三種修正效應: ぇ在複晶矽膜中載體捕捉乃隨能量之分佈修正為高斯函數。 え正確的解波松方程式而非一般的空乏近似解。 ぉ考慮晶粒與晶粒之間旋轉方向的效應,並且考慮橢圓能帶面而非圓形能帶面。 本文將這些修正模型所作的理論推導分別與前人的理論作比較。 我們觀察得到當截體捕捉函數改為高斯函數,分佈時則電阻係及主動能量對雜質濃度 的理論推導將更能接近實體測量質。 由於空乏近似解波松方程式導致電阻系數對晶粒大小之不尋常變化,將因正確的解波 松方程式而消除。 載體傳輸時晶格與晶核之間的方向性也將在本文中被考慮。而且本文亦將提供軏整的 計算機模擬程式。zh_TW
dc.language.isozh_TWen_US
dc.subject複晶半導體zh_TW
dc.subject半導體zh_TW
dc.subject傳導現象zh_TW
dc.subject模擬zh_TW
dc.subject修正效應zh_TW
dc.subject截體捕捉函數zh_TW
dc.subject高斯函數zh_TW
dc.subject電子工程zh_TW
dc.subjectELECTRONIC-ENGINEERINGen_US
dc.title以計算機模擬計算複晶半導體之傳導現象zh_TW
dc.typeThesisen_US
dc.contributor.department電子研究所zh_TW
顯示於類別:畢業論文