完整後設資料紀錄
DC 欄位語言
dc.contributor.author徐覺競en_US
dc.contributor.authorXU, JUE-JINen_US
dc.contributor.author徐力行en_US
dc.contributor.authorXU, LI-XINGen_US
dc.date.accessioned2014-12-12T02:03:34Z-
dc.date.available2014-12-12T02:03:34Z-
dc.date.issued1985en_US
dc.identifier.urihttp://140.113.39.130/cdrfb3/record/nctu/#NT742146026en_US
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11536/52356-
dc.description.abstract在本論文中,先介紹兩個以往最有名的方法,它們是老鼠走迷宮法和線段搜索法,它 們最大的缺點是每次只考慮兩個待連的洞,其結果要比前兩種方法好,因為其最佳的 範圍不限於兩個洞。因為每次考慮一列或一行,故用的洞較多。 目前的成功率為百分之七十五,如果改善元件佈置,總體繞線,成功率應可增加。zh_TW
dc.language.isozh_TWen_US
dc.subject印刷電路版zh_TW
dc.subject電路版zh_TW
dc.subject總體繞線zh_TW
dc.subject元件佈置zh_TW
dc.subject老鼠走迷宮法zh_TW
dc.subject線段搜索法zh_TW
dc.subject路徑zh_TW
dc.title印刷電路版繞線zh_TW
dc.typeThesisen_US
dc.contributor.department電控工程研究所zh_TW
顯示於類別:畢業論文