標題: 隨機性可測度計量與估算偵錯涵蓋率之應用
作者: 李榮源
LI, RONG-YUAN
李崇仁
沈文仁
LI, CHONG-REN
SHEN, WEN-REN
電子研究所
關鍵字: 隨機性;可測度計量;估算;偵錯涵蓋率
公開日期: 1985
摘要: 本文闡述一個對於組合電路的隨機性可測度計量之定義。此定義已寫成程式,其複雜 度與電路的大小成線性增加,並叮用來估算有限個測試長度的偵錯涵蓋率。
URI: http://140.113.39.130/cdrfb3/record/nctu/#NT742430042
http://hdl.handle.net/11536/52448
顯示於類別:畢業論文