標題: 檢驗錯誤影響下之計數值單次與雙次抽樣計劃之設計
The design of attribute single and double sampling plans under inspectionerror
作者: 陳志祥
XGWBM GU0ZUBF
何照義
戴久永
HE, ZHAO-YI
DAI, JIU-YONG
管理科學系所
關鍵字: 貝氏方法;檢驗錯誤影響;計數值抽樣計劃;抽樣計劃;成本模式;成本參數;參數;CUSHRIE-JOHNS
公開日期: 1985
摘要: 本文以貝氏方法來尋求檢驗錯誤影響下的最佳計數值抽樣計劃。以Cuthrie-Johns 成 本模式的基本型式為基礎,而以計數值單次與雙次抽樣為主要研究的對象,分別在檢 驗錯誤存在以及沒有檢驗錯誤的情形下,尋求使總抽樣檢驗成本為最低之抽樣計劃。 此外單次與雙次抽樣計劃績效之比較,以及各成本參數變動對總成本的影響亦包涵於 研究的範圍之中。最後並依照研究的結果提出適當的建議,以供管理者的參考。
URI: http://140.113.39.130/cdrfb3/record/nctu/#NT742457069
http://hdl.handle.net/11536/52560
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