檢驗錯誤影響下之計數值單次與雙次抽樣計劃之設計

Abstract

本文以貝氏方法來尋求檢驗錯誤影響下的最佳計數值抽樣計劃。以Cuthrie-Johns 成 本模式的基本型式為基礎，而以計數值單次與雙次抽樣為主要研究的對象，分別在檢 驗錯誤存在以及沒有檢驗錯誤的情形下，尋求使總抽樣檢驗成本為最低之抽樣計劃。 此外單次與雙次抽樣計劃績效之比較，以及各成本參數變動對總成本的影響亦包涵於 研究的範圍之中。最後並依照研究的結果提出適當的建議，以供管理者的參考。