1. 目前位置：

完整後設資料紀錄
DC 欄位值語言
dc.contributor.author江勝昌en_US
dc.contributor.authorJIANG, SHENG-CHANG2en_US
dc.contributor.author李崇仁en_US
dc.contributor.author沈文仁en_US
dc.contributor.authorLI, CHONG-RENen_US
dc.contributor.authorSHEN, WEN-RENen_US
dc.date.accessioned2014-12-12T02:05:04Z-
dc.date.available2014-12-12T02:05:04Z-
dc.date.issued1987en_US
dc.identifier.urihttp://140.113.39.130/cdrfb3/record/nctu/#NT762430038en_US
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11536/53424-
dc.description.abstract本篇論文針對超大型積體組合電路，研製一個很有效率的自動測試圖樣產生系統。這 個系統有三個可供使用者選擇的測試圖樣產生器，用來自動產測試圖樣，而且使用一 個很有效率的故障模擬器來評估故障涵蓋率（Fault Coveraga）。三個測試圖樣產生 器分別是：一個使用線性迴授移位暫存器（LFSR）所做成的隨機圖樣產生器，一個虛 隨機圖樣產生器（DISRUPT ），一個改良的具有動態壓縮（Dynamic Compaction）能 力的決定性測試圖樣產生器（SLOPE１ ）。藉著和故障模擬器緊密的結合，這個系統 產生較短的測試圖樣長度，達到更高的故障涵蓋率。zh_TW
dc.language.isozh_TWen_US
dc.subject超大型積體zh_TW
dc.subject組合電路zh_TW
dc.subject自動測試圖樣zh_TW
dc.subject圖樣產生系統zh_TW
dc.subject故障涵蓋率zh_TW
dc.subject線性迴授移位暫存zh_TW
dc.subject動態壓縮zh_TW
dc.subjectFAULT-COVERAGEen_US
dc.subjectDYNAMIC-COMPACTIONen_US
dc.title超大型積體組合電路自動測試圖樣產生系統zh_TW
dc.typeThesisen_US
dc.contributor.department電子研究所zh_TW
顯示於類別：畢業論文


相關內容
Loading...