標題: 經驗式品質損失函數於多種品質特性最佳化問題之應用研究
作者: 陳宗修
CHEN,ZONG-XIU
戴久永
巫木誠
DAI,JIU-YONG
WU,MU-CHENG
工業工程與管理學系
關鍵字: 品質損失函數;基板電子零件;TAGUCHI-METHOD;ORTHOGONAL-ARRAY;SIGNAL-TO-NOISE-RATIO;SURFACE-MOUNTING-TECHNOLOGY
公開日期: 1990
摘要: 田口方法(Taguchi Method)是一種低成本、高效益的品質改善技術,此種方法的特色 在於利用直交表(Orthogonal Array)來做實驗設計的工作,以經濟地研究多個生產因 子對製程平均值及製程變異的影響;並且利用訊號雜音比(Signal-to-Noise Ratio) 來分析實驗數據,以決定製程因子的最佳水準組合,達到製程平均值集中於目標值附 近並具有最小變異的優良品質特性。 在以往田口方法的應用實例中,絕大部份是集中於單一品質特性最佳化的問題,對於 同一製程中同時有多種品質特性需最佳化的問題則較少提及。本篇研究提出一個經驗 式品質損失函數,再結合傳統的田口方法分析程序,藉以找出將多種品質特性同時最 佳化的因子水準組合,以求得所期望的產品品質特性。本研究並以表面黏著技術(SMT ; Surface Mounting Technology)的基板電子零件裝配製程,來驗證此製程最佳化技 術的有效性。
URI: http://140.113.39.130/cdrfb3/record/nctu/#NT792030023
http://hdl.handle.net/11536/55144
顯示於類別:畢業論文