标题: | 经验式品质损失函数于多种品质特性最佳化问题之应用研究 |
作者: | 陈宗修 CHEN,ZONG-XIU 戴久永 巫木诚 DAI,JIU-YONG WU,MU-CHENG 工业工程与管理学系 |
关键字: | 品质损失函数;基板电子零件;TAGUCHI-METHOD;ORTHOGONAL-ARRAY;SIGNAL-TO-NOISE-RATIO;SURFACE-MOUNTING-TECHNOLOGY |
公开日期: | 1990 |
摘要: | 田口方法(Taguchi Method)是一种低成本、高效益的品质改善技术,此种方法的特色 在于利用直交表(Orthogonal Array)来做实验设计的工作,以经济地研究多个生产因 子对制程平均值及制程变异的影响;并且利用讯号杂音比(Signal-to-Noise Ratio) 来分析实验数据,以决定制程因子的最佳水准组合,达到制程平均值集中于目标值附 近并具有最小变异的优良品质特性。 在以往田口方法的应用实例中,绝大部份是集中于单一品质特性最佳化的问题,对于 同一制程中同时有多种品质特性需最佳化的问题则较少提及。本篇研究提出一个经验 式品质损失函数,再结合传统的田口方法分析程序,藉以找出将多种品质特性同时最 佳化的因子水准组合,以求得所期望的产品品质特性。本研究并以表面黏着技术(SMT ; Surface Mounting Technology)的基板电子零件装配制程,来验证此制程最佳化技 术的有效性。 |
URI: | http://140.113.39.130/cdrfb3/record/nctu/#NT792030023 http://hdl.handle.net/11536/55144 |
显示于类别: | Thesis |