非齊次卜以松過程：一個可修復電子系統的故障率模式

Abstract

本文指出目前可修復電子系統缺乏一個適合的故障率模式與描述方式，以及現有可靠 度鑑定標準的不適用性。而針對文獻中有關於浴缸型故障率模式加以檢討，歸納出一 個最符合實際現象的概念的浴缸曲線故障型態，並以隨機過程的觀點，構建出一個一 般化的具有韋布強度函數的非齊次卜以松過程故障率模式。同時也釐清「故障率」此 一專有名詞在可修復系統與不可修復系統上應用的差異。 本文利用最大概似法與漸近理論去估計第Ⅰ型檢剔數據的參數值與信賴界限，並制用 修正的Cramer-Von Mises統計量去檢定非齊次卜以松過程模式的適合度，以獲得一個 合理和較佳的預測與解釋。另外，本文導出了一個以具有韋布強度函數之卜以松過程 為基礎的逐次機率比檢定模式，以區別傳統上基於指數分析的MIL-STD-78IC的逐次機 率比檢定方法，並作為現今可修復電子系統可靠度鑑定的測試標準。本文也利用一實 際可修復電子系統之可靠度測試的故障數據，以完整說明所構建的非齊次卜以松過程 模式的應用可行性。並特別指出非齊次卜以松過程的逐次機率比檢定模式對於新的可 修復電子產品上市時間或節省可靠度測試成本有很大的助益，亦對系統可靠度測試結 果提供了較大的保證，以避免因誤用MIL-STD-78IC所造成可靠度決策上的差異與損失 。最後，本文建議進一步研究的方向為：進行更多可修復電子系統故障率的個案分析 ，以驗證此模式的廣泛適用性，以及進行燒入測試最佳化的研究。