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dc.contributor.author賴文祥en_US
dc.contributor.authorWEN-HSIANG LAIen_US
dc.contributor.author彭南夫en_US
dc.contributor.authorNan-Fu Pengen_US
dc.date.accessioned2014-12-12T02:08:44Z-
dc.date.available2014-12-12T02:08:44Z-
dc.date.issued2003en_US
dc.identifier.urihttp://140.113.39.130/cdrfb3/record/nctu/#GT009126518en_US
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11536/55545-
dc.description.abstract       當抽樣所得的資料經由特殊方法排序後,產生負相關,利用此負相關製成非傳統上 管制圖。在同一個型I誤差α風險下,因為負相關而使得變異數變小,所以型Ⅱ誤差β風險亦會變小,則偵測到平均值改變之機率為1-β會變大。如此能讓品質管制人員更能準確地掌握製程狀態,儘快偵測出可歸屬原因之發生或製程之跳動,以便在更多不合格品製造出之前能發現製程之變異並進行改善工作。zh_TW
dc.language.isozh_TWen_US
dc.subject負相關zh_TW
dc.subjectNegative corrlationen_US
dc.title負相關在管制圖上之應用zh_TW
dc.titleNegative Corrlation Application in Control Charten_US
dc.typeThesisen_US
dc.contributor.department統計學研究所zh_TW
顯示於類別:畢業論文


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