使用反應面方法於雙載子元件的最佳化

Abstract

為了使先進雙載子電晶體能有好的性能，在製造元件之前，我們必需花費一些時間 去做元件的模擬分析。此篇論文將依據實驗設計法及回歸分析探討出一個新的統計 方法來減少模擬的次數並且建立介於元件特性和結構參數的二次模式。元件模擬器 PISCES-IIB被用來執行模擬的工作。同時，利用二次模式我們可以分析結構參數對 元件特性的影響及在一組指定的規格下得到元件最佳化的設計範圍。另外，我們亦 探討介於元件特性間的相關性以加速元件特性的描述。