基於光罩式唯讀記憶體架構之省時結構化測試法

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DC 欄位	值	語言
dc.contributor.author	吳聰志	en_US
dc.contributor.author	Tsung-Chin Wu	en_US
dc.contributor.author	李崇仁	en_US
dc.contributor.author	Chung-Len Lee	en_US
dc.date.accessioned	2014-12-12T02:12:07Z	-
dc.date.available	2014-12-12T02:12:07Z	-
dc.date.issued	1993	en_US
dc.identifier.uri	http://140.113.39.130/cdrfb3/record/nctu/#NT820430009	en_US
dc.identifier.uri	http://hdl.handle.net/11536/58005	-
dc.description.abstract	利用對光罩式唯讀記憶體之故障模式的分析 ,可以將測試向量做一最佳化的安排 , 以及早偵測出故障的晶片 , 減低測試時間 . The analysis of the failure modes of mask_ROM leads to the optimal test vectors flow plan to reduce test time .	zh_TW
dc.language.iso	en_US	en_US
dc.subject	唯讀記憶體 , 故障 , 測試 .	zh_TW
dc.subject	ROM , failure , test .	en_US
dc.title	基於光罩式唯讀記憶體架構之省時結構化測試法	zh_TW
dc.title	A Time_Saving Structural Testing Scheme For Mask_ROM	en_US
dc.type	Thesis	en_US
dc.contributor.department	電子研究所	zh_TW
顯示於類別：	畢業論文