光學外差表面粗糙度測量術

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DC 欄位	值	語言
dc.contributor.author	許武憲	en_US
dc.contributor.author	Xu, Wu-Xian	en_US
dc.contributor.author	蘇德欽	en_US
dc.contributor.author	Su, De-Qin	en_US
dc.date.accessioned	2014-12-12T02:16:16Z	-
dc.date.available	2014-12-12T02:16:16Z	-
dc.date.issued	1995	en_US
dc.identifier.uri	http://140.113.39.130/cdrfb3/record/nctu/#NT844124003	en_US
dc.identifier.uri	http://hdl.handle.net/11536/61150	-
dc.description.abstract	本論文提出一種外差光學共軸的技術來量測物體表面的粗糙度，運用這技術的光學機構並與電腦結合，以達成自動化量測的目地並減少龐大資料處理過程中的單調性，且能及時顯示測量結果也達到光電系統整合目的。首先利用所調制的電光晶體得到差頻的目的，參考信號與測試信號之間的相位差是粗的函數，籍由分析這函數可計算出表面粗糙度值。	zh_TW
dc.language.iso	zh_TW	en_US
dc.subject	光電工程	zh_TW
dc.subject	光學	zh_TW
dc.subject	外差光學共軸	zh_TW
dc.subject	電光晶體	zh_TW
dc.subject	參考信號	zh_TW
dc.subject	測試信號	zh_TW
dc.subject	光學機構	zh_TW
dc.subject	自動化量測	zh_TW
dc.subject	光電系統整合	zh_TW
dc.subject	OPTI-ELECTRONIC-ENGINEERING	en_US
dc.subject	OPTICS	en_US
dc.title	光學外差表面粗糙度測量術	zh_TW
dc.title	Optical heterodyne profilometry	en_US
dc.type	Thesis	en_US
dc.contributor.department	光電工程學系	zh_TW
顯示於類別：	畢業論文