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dc.contributor.author王夢偉en_US
dc.contributor.authorWang, Meng-Weien_US
dc.contributor.author趙于飛en_US
dc.contributor.authorZhao, Yu-Feien_US
dc.date.accessioned2014-12-12T02:18:00Z-
dc.date.available2014-12-12T02:18:00Z-
dc.date.issued1996en_US
dc.identifier.urihttp://140.113.39.130/cdrfb3/record/nctu/#NT853124001en_US
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11536/62289-
dc.description.abstract在此我們利用橢圓偏光儀研究了各向同性和各向異性的介質。兩種介質的薄片均有 多重反射的現象。我們雖利用折射率匹配的方法依然無法完全消除多重反射現象, 以至於較難分析,故本文就僅俱單次反射的塊材為主要研究對象。 由實驗中我們發現,只會呈現單次反射的塊狀結構,其實驗結果較準確。因此,我 們針對塊狀單軸晶技( 石英 )做了一系列的量測,量得光軸及折射率的分佈。我們 提出一種線上校正入射角的方法,此法可修正橢圓偏光儀中,轉動偏光片對入射角 造成的影響。zh_TW
dc.language.isozh_TWen_US
dc.subject單軸晶體zh_TW
dc.subject橢圓偏光參數zh_TW
dc.subject橢圓偏光儀zh_TW
dc.subject光軸zh_TW
dc.subject折射率zh_TW
dc.title單軸各向異性晶體之橢圓偏光參數量測zh_TW
dc.titleUniaxial crystal and its ellipometric measurementen_US
dc.typeThesisen_US
dc.contributor.department光電工程學系zh_TW
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