標題: 單晶片系統驗證之核心技術開發---子計畫三:以特性為基礎之功能驗證與錯誤診斷(III)
Property-Based Functional Verification and Error Diagnosis(III)
作者: 黃俊達
Huang Juinn-Dar
國立交通大學電子工程學系及電子研究所
公開日期: 2007
官方說明文件#: NSC96-2220-E009-009
URI: http://hdl.handle.net/11536/88362
https://www.grb.gov.tw/search/planDetail?id=1464357&docId=262478
Appears in Collections:Research Plans