| 標題: | 單晶片系統驗證之核心技術開發---子計畫三：以特性為基礎之功能驗證與錯誤診斷(III) Property-Based Functional Verification and Error Diagnosis(III) |
| 作者: | 黃俊達 Huang Juinn-Dar 國立交通大學電子工程學系及電子研究所 |
| 公開日期: | 2007 |
| 官方說明文件#: | NSC96-2220-E009-009 |
| URI: | http://hdl.handle.net/11536/88362 https://www.grb.gov.tw/search/planDetail?id=1464357&docId=262478 |
| Appears in Collections: | Research Plans |
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