标题: | 奈米CMOS之前瞻射频类比电路设计---子计画二:奈米CMOS射频类比电路之可靠度设计与研究(III) Research on Reliability of RF/Analog Integrated Circuits in Nanoscale CMOS Technology(III) |
作者: | 柯明道 KER MING-DOU 国立交通大学电子工程学系及电子研究所 |
公开日期: | 2007 |
官方说明文件#: | NSC96-2221-E009-182 |
URI: | http://hdl.handle.net/11536/88612 https://www.grb.gov.tw/search/planDetail?id=1471687&docId=264198 |
显示于类别: | Research Plans |