标题: 奈米CMOS之前瞻射频类比电路设计---子计画二:奈米CMOS射频类比电路之可靠度设计与研究(III)
Research on Reliability of RF/Analog Integrated Circuits in Nanoscale CMOS Technology(III)
作者: 柯明道
KER MING-DOU
国立交通大学电子工程学系及电子研究所
公开日期: 2007
官方说明文件#: NSC96-2221-E009-182
URI: http://hdl.handle.net/11536/88612
https://www.grb.gov.tw/search/planDetail?id=1471687&docId=264198
显示于类别:Research Plans