異質接面電晶體的安全操作範圍研究(II)

標題:	異質接面電晶體的安全操作範圍研究(II) Investigation of Safe Operating Area of an HBT(II)
作者:	李建平 LEE CHIEN-PING 交通大學電子工程系
公開日期:	2006
官方說明文件#:	NSC95-2221-E009-274
URI:	http://hdl.handle.net/11536/89263 https://www.grb.gov.tw/search/planDetail?id=1309504&docId=241988
顯示於類別：	研究計畫