標題: 砷化鎵晶片高溫接合中介面空孔之研究
High-Temperature Healing of Interfacial Voids in GaAs Wafer Bonding
作者: 吳耀銓
YEWCHUNG SERMONWU
國立交通大學材料科學與工程學系
公開日期: 2000
官方說明文件#: NSC89-2215-E009-075
URI: http://hdl.handle.net/11536/89575
https://www.grb.gov.tw/search/planDetail?id=574873&docId=107450
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