標題: | 遠場下確認次波長尺度變化的方法之研發(II) Development of the Characterization Schemes of Subwavelength Variation from Far-Field Characteristics (II) |
作者: | 陳志隆 CHERN JYH-LONG 交通大學光電工程研究所 |
公開日期: | 2006 |
官方說明文件#: | NSC95-2221-E009-293 |
URI: | http://hdl.handle.net/11536/89676 https://www.grb.gov.tw/search/planDetail?id=1309582&docId=242007 |
顯示於類別: | 研究計畫 |