CMOS玻璃蓋片視覺檢測系統與瑕疵分類方法之研究(II)

標題:	CMOS玻璃蓋片視覺檢測系統與瑕疵分類方法之研究(II) The Researches of Defect Inspeciton and Classification of the CMOS Glass Lid (II)
作者:	彭德保 PERNG DER-BAAU 國立交通大學工業工程與管理學系(所)
公開日期:	2006
官方說明文件#:	NSC95-2221-E009-140
URI:	http://hdl.handle.net/11536/89857 https://www.grb.gov.tw/search/planDetail?id=1309086&docId=241877
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