| 標題: | CMOS玻璃蓋片視覺檢測系統與瑕疵分類方法之研究(II) The Researches of Defect Inspeciton and Classification of the CMOS Glass Lid (II) |
| 作者: | 彭德保 PERNG DER-BAAU 國立交通大學工業工程與管理學系(所) |
| 公開日期: | 2006 |
| 官方說明文件#: | NSC95-2221-E009-140 |
| URI: | http://hdl.handle.net/11536/89857 https://www.grb.gov.tw/search/planDetail?id=1309086&docId=241877 |
| 顯示於類別： | 研究計畫 |
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