標題: | 半導體廠檔控片清洗回收良率規劃 Yield Improvement Planning for Test Wafers in Semiconductor Manufacturing |
作者: | 巫木誠 WU MUH-CHERNG 國立交通大學工業工程與管理學系 |
關鍵字: | 檔控片;測試片;良率改善 |
公開日期: | 2004 |
摘要: | 檔控片(或稱測試片)是半導體廠用來監控製程品質的晶圓。檔控片經過酸 槽清洗回收之後,可依其潔淨度再使用或降級下游的工作站使用。過去文獻大多 研究檔控片降級的最適決策,以節省檔控片的整廠用量。然而,如何藉由改善各 工作站檔控片清洗回收的良率,以節省檔控片的用量,則甚少探討。半導體廠內 使用檔控片的工作站很多,每個工作站都有檔控片清洗回收的問題。在預算有限 的狀況下,如果要改善清洗回收的良率,應該優先改善哪些工作站,以最小化整 廠檔控片的用量,則尚未有文獻探討。本研究計畫擬構建此決策問題的數學模 型,並發展求解方法。本研究擬以「基因演算法」及「邊際分配法」求解此問題, 並且比較此兩方法求解之效率與品質。 |
官方說明文件#: | NSC93-2213-E009-082 |
URI: | http://hdl.handle.net/11536/91094 https://www.grb.gov.tw/search/planDetail?id=1007017&docId=189783 |
Appears in Collections: | Research Plans |
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