標題: 對以智財單元為基系統晶片設計之驗證與測試技術開發研究---子計畫IV:以智財單元為基系統晶片設計之測試技術研究
Testing Technology Development for IP-Based SoC Design
作者: 李崇仁
交通大學電子工程系
關鍵字: 系統晶片;晶片設計;測試技術;System-on-chip (SOC);Chip design;Test technique
公開日期: 2001
官方說明文件#: NSC90-2215-E009-084
URI: http://hdl.handle.net/11536/93688
https://www.grb.gov.tw/search/planDetail?id=665767&docId=126390
顯示於類別:研究計畫


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