矽晶絕緣層之雷射超音波檢測及評估(II)

完整後設資料紀錄

DC 欄位	值	語言
dc.contributor.author	尹慶中	en_US
dc.contributor.author	YIN CHING-CHUNG	en_US
dc.date.accessioned	2014-12-13T10:36:02Z	-
dc.date.available	2014-12-13T10:36:02Z	-
dc.date.issued	2000	en_US
dc.identifier.govdoc	NSC89-2212-E009-091	zh_TW
dc.identifier.uri	http://hdl.handle.net/11536/93716	-
dc.identifier.uri	https://www.grb.gov.tw/search/planDetail?id=550510&docId=101701	en_US
dc.description.sponsorship	行政院國家科學委員會	zh_TW
dc.language.iso	zh_TW	en_US
dc.title	矽晶絕緣層之雷射超音波檢測及評估(II)	zh_TW
dc.title	Evaluation of Silicon-on-Insulator by Wafer Bonding Using Laser-induced Ultrasound(II)	en_US
dc.type	Plan	en_US
dc.contributor.department	國立交通大學機械工程學系	zh_TW
顯示於類別：	研究計畫

文件中的檔案：

若為 zip 檔案，請下載檔案解壓縮後，用瀏覽器開啟資料夾中的 index.html 瀏覽全文。