完整後設資料紀錄
DC 欄位 | 值 | 語言 |
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dc.contributor.author | 張立 | en_US |
dc.contributor.author | CHANG LI | en_US |
dc.date.accessioned | 2014-12-13T10:36:03Z | - |
dc.date.available | 2014-12-13T10:36:03Z | - |
dc.date.issued | 2000 | en_US |
dc.identifier.govdoc | NSC89-2218-E009-068 | zh_TW |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/11536/93730 | - |
dc.identifier.uri | https://www.grb.gov.tw/search/planDetail?id=597337&docId=112563 | en_US |
dc.description.sponsorship | 行政院國家科學委員會 | zh_TW |
dc.language.iso | zh_TW | en_US |
dc.title | 銅導線及其障礙層之材質研究(II) | zh_TW |
dc.title | Microstructural Study of Copper Interconnect and Diffusion Barriers(II) | en_US |
dc.type | Plan | en_US |
dc.contributor.department | 國立交通大學材料科學工程研究所 | zh_TW |
顯示於類別: | 研究計畫 |