以非線性光譜顯微術探討鐵電與鐵磁薄膜的結構與物性(I)

標題:	以非線性光譜顯微術探討鐵電與鐵磁薄膜的結構與物性(I) Scanning Nonlinear Optical Spectromicroscopic Studies of Ferroelectric and Ferromagnetic Thin Films (I)
作者:	黃中垚 JUNG Y.HUANG 交通大學光電工程研究所
關鍵字:	克爾效應;掃描探測顯微鏡;鐵電性;鐵磁性;磁域;非線性光學;Kerr effect;Scanning probe microscopy;Ferroelectricity;Ferromagnetism;Magnetic domain;Nonlinear optics
公開日期:	1999
官方說明文件#:	NSC88-2112-M009-038
URI:	http://hdl.handle.net/11536/94547 https://www.grb.gov.tw/search/planDetail?id=428649&docId=76702
Appears in Collections:	Research Plans