标题: 超大型积体电路测试与可测性设计课程发展---子计画六:自动测试应用(III)
"VLSI Testing and Design for Testability" Course Development: Automatic Test Application (III)
作者: 李崇仁
交通大学电子工程系
关键字: 超大型积体电路测试;自动测试机;课程发展;VLSI testing;Automatic testing equipment;Curriculum development
公开日期: 1998
官方说明文件#: NSC87-2512-S009-003-EE
URI: http://hdl.handle.net/11536/94781
https://www.grb.gov.tw/search/planDetail?id=334775&docId=59356
显示于类别:Research Plans