标题: | 超大型积体电路测试与可测性设计课程发展---子计画六:自动测试应用(III) "VLSI Testing and Design for Testability" Course Development: Automatic Test Application (III) |
作者: | 李崇仁 交通大学电子工程系 |
关键字: | 超大型积体电路测试;自动测试机;课程发展;VLSI testing;Automatic testing equipment;Curriculum development |
公开日期: | 1998 |
官方说明文件#: | NSC87-2512-S009-003-EE |
URI: | http://hdl.handle.net/11536/94781 https://www.grb.gov.tw/search/planDetail?id=334775&docId=59356 |
显示于类别: | Research Plans |