標題: 超大型積體電路測試與可測性設計課程發展---子計畫六:自動測試應用
"VLSI Testing and Design for Testability" Course Development
作者: 李崇仁
國立交通大學電子工程研究所
公開日期: 1996
官方說明文件#: NSC85-2512-S009-007-EE
URI: http://hdl.handle.net/11536/96115
https://www.grb.gov.tw/search/planDetail?id=222952&docId=39949
顯示於類別:研究計畫