完整後設資料紀錄
DC 欄位 | 值 | 語言 |
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dc.contributor.author | 李崇仁 | en_US |
dc.date.accessioned | 2014-12-13T10:39:08Z | - |
dc.date.available | 2014-12-13T10:39:08Z | - |
dc.date.issued | 1996 | en_US |
dc.identifier.govdoc | NSC85-2512-S009-007-EE | zh_TW |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/11536/96115 | - |
dc.identifier.uri | https://www.grb.gov.tw/search/planDetail?id=222952&docId=39949 | en_US |
dc.description.sponsorship | 行政院國家科學委員會 | zh_TW |
dc.language.iso | zh_TW | en_US |
dc.title | 超大型積體電路測試與可測性設計課程發展---子計畫六:自動測試應用 | zh_TW |
dc.title | "VLSI Testing and Design for Testability" Course Development | en_US |
dc.type | Plan | en_US |
dc.contributor.department | 國立交通大學電子工程研究所 | zh_TW |
顯示於類別: | 研究計畫 |