标题: 超大型积体电路测试与可测性设计课程发展---总计画(II)
"VLSI Testing and Design for Testability" Course Development (II)
作者: 李崇仁
国立交通大学电子工程研究所
公开日期: 1996
官方说明文件#: NSC85-2512-S009-008-EE
URI: http://hdl.handle.net/11536/95630
https://www.grb.gov.tw/search/planDetail?id=222949&docId=39948
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