标题: | 超大型积体电路测试与可测性设计课程发展---总计画(II) "VLSI Testing and Design for Testability" Course Development (II) |
作者: | 李崇仁 国立交通大学电子工程研究所 |
公开日期: | 1996 |
官方说明文件#: | NSC85-2512-S009-008-EE |
URI: | http://hdl.handle.net/11536/95630 https://www.grb.gov.tw/search/planDetail?id=222949&docId=39948 |
显示于类别: | Research Plans |