標題: | 良率分析應用於動態隨機存取記憶體中區域分割及修復電路之研究 Yield Analysis with Division of Sections and Redundancy Scheme for DRAM |
作者: | 唐麗英 TONG LEE-ING 國立交通大學工業工程與管理學系 |
公開日期: | 1996 |
官方說明文件#: | NSC85-2213-E009-129 |
URI: | http://hdl.handle.net/11536/96015 https://www.grb.gov.tw/search/planDetail?id=218522&docId=38688 |
顯示於類別: | 研究計畫 |