良率分析應用於動態隨機存取記憶體中區域分割及修復電路之研究

標題:	良率分析應用於動態隨機存取記憶體中區域分割及修復電路之研究 Yield Analysis with Division of Sections and Redundancy Scheme for DRAM
作者:	唐麗英 TONG LEE-ING 國立交通大學工業工程與管理學系
公開日期:	1996
官方說明文件#:	NSC85-2213-E009-129
URI:	http://hdl.handle.net/11536/96015 https://www.grb.gov.tw/search/planDetail?id=218522&docId=38688
顯示於類別：	研究計畫