標題: 快閃式記憶元件熱電子效應的可靠性分析
Analysis of Hot Electron Induced Reliability of Flash Memories
作者: 莊紹勳
Chung Steve S
國立交通大學電子工程學系
公開日期: 1996
官方說明文件#: NSC85-2215-E009-053
URI: http://hdl.handle.net/11536/96020
https://www.grb.gov.tw/search/planDetail?id=218534&docId=38692
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