多晶片模組可測試設計及測試方法

完整後設資料紀錄

DC 欄位	值	語言
dc.contributor.author	王國禎	en_US
dc.contributor.author	WANG KUO-CHEN	en_US
dc.date.accessioned	2014-12-13T10:39:19Z	-
dc.date.available	2014-12-13T10:39:19Z	-
dc.date.issued	1995	en_US
dc.identifier.govdoc	NSC84-2215-E009-055	zh_TW
dc.identifier.uri	http://hdl.handle.net/11536/96347	-
dc.identifier.uri	https://www.grb.gov.tw/search/planDetail?id=172225&docId=29260	en_US
dc.description.sponsorship	行政院國家科學委員會	zh_TW
dc.language.iso	zh_TW	en_US
dc.title	多晶片模組可測試設計及測試方法	zh_TW
dc.title	Testable Design and Testing of MCMs	en_US
dc.type	Plan	en_US
dc.contributor.department	國立交通大學資訊科學研究所	zh_TW
顯示於類別：	研究計畫