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1996利用暫態電流量測技術研究超大型積體電路元件中氧化層之可靠度張澤恩; Chang, Tse-En; 汪大暉; Tahui Wang; 電子研究所
2007利用氧化提昇矽鍺奈米線生物感測器之靈敏度趙文全; Wen-Chuan Chao; 汪大暉; Tahui Wang; 電機學院微電子奈米科技產業專班
2006利用特殊接觸電極研究橫向擴散元件之自發熱效應與可靠度林家福; Jia-Fu Lin; 汪大暉; Tahui Wang; 電子研究所
2007利用特殊接觸電極進行橫向擴散元件之特性分析與SPICE模型建立熊勖廷; Hsu-Ting Shiung; 汪大暉; Tahui Wang; 電子研究所
2006利用蒙地卡羅模擬在應變矽晶面上不同通道方向之電洞傳輸特性許家源　; Jia-Yuan Shiu; 汪大暉; Tahui Wang; 電子研究所
2009單一電子在SONOS快閃式記憶體中的現象，物理以及特性研究鍾岳庭; Chung, Yueh-Ting; 汪大暉; Wang, Ta-Hui; 電子研究所
2010單一電子在超大型積體電路元件中所造成臨界電壓擾動之三維原子量級模擬王明瑋; Wang, Ming-Wei; 汪大暉; Wang, Ta-hui; 電子研究所
1994單晶微波積體電路之元件傳輸物理、元件模式化與一2 GHz降頻器之設計謝定華; Ting-Hua Hsieh; 汪大暉; Tahui Wang; 電子研究所
2014單電荷與輻射效應在先進CMOS 和SONOS 元件可靠性之統計量測與模式汪大暉; WANG TAHUI; 國立交通大學電子工程學系及電子研究所
2013單電荷與輻射效應在先進CMOS 和SONOS 元件可靠性之統計量測與模式汪大暉; WANG TAHUI; 國立交通大學電子工程學系及電子研究所
2015單電荷與輻射效應在先進CMOS 和SONOS 元件可靠性之統計量測與模式汪大暉; WANG TAHUI; 國立交通大學電子工程學系及電子研究所
2011在負偏壓溫度不穩定回復時臨界電壓改變量分佈之統計特性和模式及其時間演繹謝泓達; Hsieh, Hong-Da; 汪大暉; Wang, Ta-Hui; 電子研究所
2010多層堆疊氧化鉿/氧化鋁電阻轉態層之透明電阻式記憶體特性研究溫岳嘉; Wun, Yue- Jia; 張國明; 汪大暉; Chang, Kow-Ming; Wang, Ta-Hui; 電子研究所
1989多重量子井場效電晶體之物理及傳輸特性研究曾建賢; ZENG,JIAN-XIAN; 汪大暉; WANG,DA-HUI; 電子研究所
2004奈米CMOS元件量子效應與電荷傳輸模擬及電性與可靠性分析(I)汪大暉; WANG TAHUI; 交通大學電子工程系
2005奈米CMOS元件量子效應與電荷傳輸模擬及電性與可靠性分析(II)汪大暉; WANG TAHUI; 交通大學電子工程系
2006奈米CMOS元件量子效應與電荷傳輸模擬及電性與可靠性分析(III)汪大暉; WANG TAHUI; 交通大學電子工程系
2010奈米SONOS元件內單電子效應、可靠性物理及創新研究汪大暉; WANG TAHUI; 國立交通大學電子工程學系及電子研究所
2011奈米SONOS元件內單電子效應，可靠性物理及創新研究汪大暉; WANG TAHUI; 國立交通大學電子工程學系及電子研究所
2012奈米SONOS元件內單電子效應，可靠性物理及創新研究汪大暉; WANG TAHUI; 國立交通大學電子工程學系及電子研究所
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