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| 公開日期 | 標題 | 作者 |
|---|---|---|
| 1999 | P通道快閃式記憶元件在長時間寫入抹除後由熱載子導致的可靠性問題研究 | 莊紹勳; Chung Steve S; 交通大學電子工程系 |
| 1999 | 深次微米元件內熱載子效應所造成汲極漏電流特性退化之研究 | 汪大暉; WANG TAHUI; 交通大學電子工程系 |
| 1999 | 電漿製程天線效應對超薄閘氧化層電晶體特性影響之研究 | 林鴻志; HORNG-CHIHLIN; 國立交通大學毫微米實驗室 |