深次微米元件內熱載子效應所造成汲極漏電流特性退化之研究
Loading...
Date
Authors
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Publisher
DOI
Abstract
Description
Keywords
深次微米 , 熱載子 , 洩漏電流 , 退化 , 汲極 , 氧化層 , 金氧半場效電晶體 , Deep submicrometer , Hot carrier , Leakage current , Degradation , Drain , Oxided layer , MOSFET