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國立陽明交通大學機構典藏
瀏覽 的方式: 作者 Chen, Li-Hui
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顯示 1 到 6 筆資料,總共 6 筆
公開日期
標題
作者
31-十二月-2017
Analysis of abnormal transconductance in body-tied partially-depleted silicon-on-insulator n-MOSFETs
Lin, Chien-Yu
;
Chang, Ting-Chang
;
Liu, Kuan-Ju
;
Chen, Li-Hui
;
Chen, Ching-En
;
Tsai, Jyun-Yu
;
Liu, Hsi-Wen
;
Lu, Ying-Hsin
;
Liao, Jin-Chien
;
Ciou, Fong-Min
;
Lin, Yu-Shan
;
電機學院
;
College of Electrical and Computer Engineering
1-六月-2017
Analysis of Contrasting Degradation Behaviors in Channel and Drift Regions Under Hot Carrier Stress in PDSOI LD N-Channel MOSFETs
Lin, Chien-Yu
;
Chang, Ting-Chang
;
Liu, Kuan-Ju
;
Chen, Li-Hui
;
Tsai, Jyun-Yu
;
Chen, Ching-En
;
Lu, Ying-Hsin
;
Liu, Hsi-Wen
;
Liao, Jin-Chien
;
Chang, Kuan-Chang
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
1-一月-2018
Drain-Induced-Barrier-Lowing-Like Effect Induced by Oxygen-Vacancy in Scaling-Down via-Contact Type Amorphous InGaZnO Thin-Film Transistors
Yang, Chung-I.
;
Chang, Ting-Chang
;
Liao, Po-Yung
;
Chen, Li-Hui
;
Chen, Bo-Wei
;
Chou, Wu-Ching
;
Chen, Guan-Fu
;
Lin, Sung-Chun
;
Yeh, Cheng-Yen
;
Tsai, Cheng-Ming
;
Yu, Ming-Chang
;
Zhang, Shengdong
;
電子物理學系
;
Department of Electrophysics
15-五月-2017
The effect of device electrode geometry on performance after hot-carrier stress in amorphous In-Ga-Zn-O thin film transistors with different via-contact structures
Liao, Po-Yung
;
Chang, Ting-Chang
;
Chen, Yu-Jia
;
Su, Wan-Ching
;
Chen, Bo-Wei
;
Chen, Li-Hui
;
Hsieh, Tien-Yu
;
Yang, Chung-Yi
;
Chang, Kuan-Chang
;
Zhang, Sheng-Dong
;
Huang, Yen-Yu
;
Chang, Hsi-Ming
;
Chiang, Shin-Chuan
;
電子物理學系
;
Department of Electrophysics
1-六月-2017
Fast-IV Measurement Investigation of the Role of TiN Gate Nitrogen Concentration on Bulk Traps in HfO2 Layer in p-MOSFETs
Lu, Ying-Hsin
;
Chang, Ting-Chang
;
Liao, Jih-Chien
;
Chen, Li-Hui
;
Lin, Yu-Shan
;
Chen, Ching-En
;
Liu, Kuan-Ju
;
Liu, Xi-Wen
;
Lin, Chien-Yu
;
Lien, Chen-Hsin
;
Tseng, Tseung-Yuen
;
Cheng, Osbert
;
Huang, Cheng-Tung
;
Yen, Wei-Ting
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
26-六月-2017
Impact of repeated uniaxial mechanical strain on flexible a-IGZO thin film transistors with symmetric and asymmetric structures
Liao, Po-Yung
;
Chang, Ting-Chang
;
Su, Wan-Ching
;
Chen, Bo-Wei
;
Chen, Li-Hui
;
Hsieh, Tien-Yu
;
Yang, Chung-Yi
;
Chang, Kuan-Chang
;
Zhang, Sheng-Dong
;
Huang, Yen-Yu
;
Chang, Hsi-Ming
;
Chiang, Shin-Chuan
;
電子物理學系
;
Department of Electrophysics