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國立陽明交通大學機構典藏
瀏覽 的方式: 作者 Tung, Cheng-Wei
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顯示 1 到 5 筆資料,總共 5 筆
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標題
作者
1-三月-2013
Characteristics and Mechanisms of Silicon-Oxide-Based Resistance Random Access Memory
Chang, Kuan-Chang
;
Tsai, Tsung-Ming
;
Chang, Ting-Chang
;
Wu, Hsing-Hua
;
Chen, Jung-Hui
;
Syu, Yong-En
;
Chang, Geng-Wei
;
Chu, Tian-Jian
;
Liu, Guan-Ru
;
Su, Yu-Ting
;
Chen, Min-Chen
;
Pan, Jhih-Hong
;
Chen, Jian-Yu
;
Tung, Cheng-Wei
;
Huang, Hui-Chun
;
Tai, Ya-Hsiang
;
Gan, Der-Shin
;
Sze, Simon M.
;
電子工程學系及電子研究所
;
光電工程學系
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
;
Department of Photonics
19-八月-2013
Electrical conduction mechanism of Zn:SiOx resistance random access memory with supercritical CO2 fluid process
Chang, Kuan-Chang
;
Tsai, Tsung-Ming
;
Zhang, Rui
;
Chang, Ting-Chang
;
Chen, Kai-Huang
;
Chen, Jung-Hui
;
Young, Tai-Fa
;
Lou, J. C.
;
Chu, Tian-Jian
;
Shih, Chih-Cheng
;
Pan, Jhih-Hong
;
Su, Yu-Ting
;
Syu, Yong-En
;
Tung, Cheng-Wei
;
Chen, Min-Chen
;
Wu, Jia-Jie
;
Hu, Ying
;
Sze, Simon M.
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
1-四月-2013
Hopping conduction distance dependent activation energy characteristics of Zn:SiO2 resistance random access memory devices
Chen, Kai-Huang
;
Zhang, Rui
;
Chang, Ting-Chang
;
Tsai, Tsung-Ming
;
Chang, Kuan-Chang
;
Lou, J. C.
;
Young, Tai-Fa
;
Chen, Jung-Hui
;
Shih, Chih-Cheng
;
Tung, Cheng-Wei
;
Syu, Yong-En
;
Sze, Simon M.
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
1-四月-2013
Low Temperature Improvement Method on Zn:SiOx Resistive Random Access Memory Devices
Chang, Kuan-Chang
;
Tsai, Tsung-Ming
;
Chang, Ting-Chang
;
Wu, Hsing-Hua
;
Chen, Kai-Huang
;
Chen, Jung-Hui
;
Young, Tai-Fa
;
Chu, Tian-Jian
;
Chen, Jian-Yu
;
Pan, Chih-Hung
;
Su, Yu-Ting
;
Syu, Yong-En
;
Tung, Cheng-Wei
;
Chang, Geng-Wei
;
Chen, Min-Chen
;
Huang, Hui-Chun
;
Tai, Ya-Hsiang
;
Gan, Der-Shin
;
Wu, Jia-Jie
;
Hu, Ying
;
Sze, Simon M.
;
電子工程學系及電子研究所
;
光電工程學系
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
;
Department of Photonics
21-十二月-2013
Mechanism of power consumption inhibitive multi-layer Zn:SiO2/SiO2 structure resistance random access memory
Zhang, Rui
;
Tsai, Tsung-Ming
;
Chang, Ting-Chang
;
Chang, Kuan-Chang
;
Chen, Kai-Huang
;
Lou, Jen-Chung
;
Young, Tai-Fa
;
Chen, Jung-Hui
;
Huang, Syuan-Yong
;
Chen, Min-Chen
;
Shih, Chih-Cheng
;
Chen, Hsin-Lu
;
Pan, Jhih-Hong
;
Tung, Cheng-Wei
;
Syu, Yong-En
;
Sze, Simon M.
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics