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公開日期標題作者
1996950至2050MHz砷化鎵單晶微波積體電路降頻器之設計、模擬與量測汪大暉; WANG TAHUI; 國立交通大學電子工程學系
2000CMOS發光顯像技術與閘極介電層材料研究---中加合作案(I)汪大暉; WANG TAHUI; 國立交通大學電子工程學系
2000CMOS發光顯像技術與閘極介電層材料研究---中加合作案(II)汪大暉; WANG TAHUI; 國立交通大學電子工程學系
2000RF CMOS 雜訊分析與可靠性研究汪大暉; WANG TAHUI; 國立交通大學電子工程學系
2000RF CMOS之特性量測、模式建立與可靠性研究汪大暉; WANG TAHUI; 交通大學電子工程系
2001一種新式氮化矽快閃式記憶元件研究(I)汪大暉; WANG TAHUI; 國立交通大學電子工程學系
2002一種新式氮化矽快閃式記憶元件研究(II)汪大暉; WANG TAHUI; 交通大學電子工程系
1994三維微電子真空元件模擬器汪大暉; WANG TAHUI; 交通大學電子工程研究所
2014單電荷與輻射效應在先進CMOS 和SONOS 元件可靠性之統計量測與模式汪大暉; WANG TAHUI; 國立交通大學電子工程學系及電子研究所
2013單電荷與輻射效應在先進CMOS 和SONOS 元件可靠性之統計量測與模式汪大暉; WANG TAHUI; 國立交通大學電子工程學系及電子研究所
2015單電荷與輻射效應在先進CMOS 和SONOS 元件可靠性之統計量測與模式汪大暉; WANG TAHUI; 國立交通大學電子工程學系及電子研究所
2004奈米CMOS元件量子效應與電荷傳輸模擬及電性與可靠性分析(I)汪大暉; WANG TAHUI; 交通大學電子工程系
2005奈米CMOS元件量子效應與電荷傳輸模擬及電性與可靠性分析(II)汪大暉; WANG TAHUI; 交通大學電子工程系
2006奈米CMOS元件量子效應與電荷傳輸模擬及電性與可靠性分析(III)汪大暉; WANG TAHUI; 交通大學電子工程系
2010奈米SONOS元件內單電子效應、可靠性物理及創新研究汪大暉; WANG TAHUI; 國立交通大學電子工程學系及電子研究所
2011奈米SONOS元件內單電子效應，可靠性物理及創新研究汪大暉; WANG TAHUI; 國立交通大學電子工程學系及電子研究所
2012奈米SONOS元件內單電子效應，可靠性物理及創新研究汪大暉; WANG TAHUI; 國立交通大學電子工程學系及電子研究所
2009次32奈米CMOS元件可靠性分析、量子結構效應、與蒙地卡羅電荷傳輸模擬汪大暉; WANG TAHUI; 國立交通大學電子工程學系及電子研究所
2008次32奈米CMOS元件可靠性分析、量子結構效應、與蒙地卡羅電荷傳輸模擬汪大暉; WANG TAHUI; 國立交通大學電子工程學系及電子研究所
2007次32奈米CMOS元件可靠性分析、量子結構效應、與蒙地卡羅電荷傳輸模擬汪大暉; WANG TAHUI; 國立交通大學電子工程學系及電子研究所
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