標題: | RF CMOS之特性量測、模式建立與可靠性研究 RF CMOS Characterization, Modeling and Reliability Study |
作者: | 汪大暉 WANG TAHUI 交通大學電子工程系 |
關鍵字: | 射頻;互補式金氧半導體;S-參數;雜訊;電路模式;天線效應;熱電子;RF;CMOS;S-parameter;Noise;Circuit model;Antenna effect;Hot carrier |
公開日期: | 2000 |
官方說明文件#: | NSC89-2215-E009-034 |
URI: | http://hdl.handle.net/11536/89519 https://www.grb.gov.tw/search/planDetail?id=542099&docId=99581 |
顯示於類別: | 研究計畫 |