標題: RF CMOS之特性量測、模式建立與可靠性研究
RF CMOS Characterization, Modeling and Reliability Study
作者: 汪大暉
WANG TAHUI
交通大學電子工程系
關鍵字: 射頻;互補式金氧半導體;S-參數;雜訊;電路模式;天線效應;熱電子;RF;CMOS;S-parameter;Noise;Circuit model;Antenna effect;Hot carrier
公開日期: 2000
官方說明文件#: NSC89-2215-E009-034
URI: http://hdl.handle.net/11536/89519
https://www.grb.gov.tw/search/planDetail?id=542099&docId=99581
顯示於類別:研究計畫


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