標題: 具有液晶聚合物薄膜之檢測裝置及檢測方法
作者: 林怡欣
公開日期: 21-九月-2014
官方說明文件#: G01N033/487
G02F001/13
URI: http://hdl.handle.net/11536/106183
專利國: TWN
專利號碼: I453410
顯示於類別:專利資料


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