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標題: 應用於多階儲存單元快閃記憶體之系統可靠度改善方法
The System Reliability Extending for Multi-Level per Cell NAND Flash Memory
作者: 許祐誠
Hsu, Yu-Cheng
張俊彥
Chang, Chun-Yen
電子工程學系 電子研究所
關鍵字: 快閃記憶體;多階儲存單元;系統可靠度;System Reliability;Multi-Level per Cell;NAND Flash Memory
公開日期: 2015
URI: http://140.113.39.130/cdrfb3/record/nctu/#GT079811546
http://hdl.handle.net/11536/127341
Appears in Collections:Thesis


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