標題: 異質接面電晶體的安全操作範圍研究( III )
Study of Ruggedness and the Safe Operating Area of GaAs Based Heterojunction Bipolar Transistors( III )
作者: 李建平
LEE CHIEN-PING
國立交通大學電子工程學系及電子研究所
公開日期: 2015
官方說明文件#: MOST104-2221-E009-004
URI: http://hdl.handle.net/11536/130140
https://www.grb.gov.tw/search/planDetail?id=11493320&docId=465503
顯示於類別:研究計畫