標題: 相位雜訊量測電路
作者: 陳巍仁
郭柏毅
公開日期: 16-十二月-2017
摘要: 一種相位雜訊量測電路,其是利用數位相位轉換器產生N個相位時脈訊號,並選擇N個相位時脈訊號其中之一,與待量測之一震盪訊號相比較,再透過積分器與比較器之處理,以產生一相位雜訊訊號。其中N個相位時脈訊號彼此間具有相同之頻率但不同之相位,而相位雜訊訊號為震盪訊號中相位雜訊經量化後之一數位訊號,且數位訊號包含雜訊頻譜成分以及雜訊功率大小,以供後續量測。
官方說明文件#: G01R029/26
URI: http://hdl.handle.net/11536/151410
專利國: TWN
專利號碼: 201743066
顯示於類別:專利資料


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