標題: | 相位雜訊量測電路 |
作者: | 陳巍仁 郭柏毅 |
公開日期: | 16-十二月-2017 |
摘要: | 一種相位雜訊量測電路,其是利用數位相位轉換器產生N個相位時脈訊號,並選擇N個相位時脈訊號其中之一,與待量測之一震盪訊號相比較,再透過積分器與比較器之處理,以產生一相位雜訊訊號。其中N個相位時脈訊號彼此間具有相同之頻率但不同之相位,而相位雜訊訊號為震盪訊號中相位雜訊經量化後之一數位訊號,且數位訊號包含雜訊頻譜成分以及雜訊功率大小,以供後續量測。 |
官方說明文件#: | G01R029/26 |
URI: | http://hdl.handle.net/11536/151410 |
專利國: | TWN |
專利號碼: | 201743066 |
顯示於類別: | 專利資料 |