完整後設資料紀錄
DC 欄位語言
dc.contributor.author張嘉原en_US
dc.contributor.authorChang, Chia-Yuanen_US
dc.contributor.author洪紹剛en_US
dc.contributor.authorHung, Shao-Kangen_US
dc.date.accessioned2014-12-12T02:00:27Z-
dc.date.available2014-12-12T02:00:27Z-
dc.date.issued2011en_US
dc.identifier.urihttp://140.113.39.130/cdrfb3/record/nctu/#GT079969510en_US
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11536/50816-
dc.description.abstract本研究主要目的為設計一光學檢查系統, 針對圖形化藍寶石基板上的瑕疵檢測出來, 並加以分類以利後續製程。 在設計光學檢測系統中, 需先完成基本的影像處理功能, 如二值化, 直方圖, ROI 形態學處理, 以及邊緣檢測的基本功能。 本研究利用 Boland C++ 5.0 做為程式撰寫工具,開發出影像處理的基本功能, 且透過實際的CCD 拍攝影像來判斷, 並修改核心參數以達到最適化, 主要的研究環境, 程式都可以轉移到將來的自動化生產,以改善LED 的製造成本。zh_TW
dc.description.abstractAn optical inspection system for PSS is designed in this thesis. Before this inspection system, some basic image processing functions shall be implemented first , like thresholding , histogram , morphology , and edge detection. Boland C++ 5.0 is the programming tool used for image processing. By taking the real PSS image for inspection, we can optimize the parameter. Also, we can transfer this research to factory automation to reduce the cost and mass production.en_US
dc.language.isozh_TWen_US
dc.subject缺陷檢測zh_TW
dc.subject視覺zh_TW
dc.subjectDefects Inspectionen_US
dc.subjectVisionen_US
dc.title圖形化藍寶石基板缺陷檢測之研究zh_TW
dc.titleInspection of Patterned Sapphire Substrate Defectsen_US
dc.typeThesisen_US
dc.contributor.department工學院精密與自動化工程學程zh_TW
顯示於類別:畢業論文


文件中的檔案:

  1. 951001.pdf

若為 zip 檔案,請下載檔案解壓縮後,用瀏覽器開啟資料夾中的 index.html 瀏覽全文。