分包型記憶系統之錯誤校正碼

Abstract

隨著半導體製造技術的進步，高可信度已成了設計記憶系統時之一個重要考慮因素。 目前錯誤校正碼已被用來校正計算機記憶單位裡所造成的錯誤。但是對於分包型記憶 系統，則需要一種新的碼來校正或偵測此系統所發生之錯誤。分包型記憶系統之結構 係指於一個記憶儲存片或儲存卡中，拉出多條線，分別代表一個字碼中某些個字元。 本論文提出兩種處理分包型記憶系統所發生之錯誤的校正碼。