分包型記憶系統之錯誤校正碼

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DC 欄位	值	語言
dc.contributor.author	吳傳嘉	en_US
dc.contributor.author	Wu, Zhuan-Jia	en_US
dc.contributor.author	張時春	en_US
dc.contributor.author	吳憲明	en_US
dc.contributor.author	Zhang, Shi-Chun	en_US
dc.contributor.author	Wu, Xian-Ming	en_US
dc.date.accessioned	2014-12-12T02:01:27Z	-
dc.date.available	2014-12-12T02:01:27Z	-
dc.date.issued	1979	en_US
dc.identifier.uri	http://140.113.39.130/cdrfb3/record/nctu/#NT684394022	en_US
dc.identifier.uri	http://hdl.handle.net/11536/51128	-
dc.description.abstract	隨著半導體製造技術的進步，高可信度已成了設計記憶系統時之一個重要考慮因素。目前錯誤校正碼已被用來校正計算機記憶單位裡所造成的錯誤。但是對於分包型記憶系統，則需要一種新的碼來校正或偵測此系統所發生之錯誤。分包型記憶系統之結構係指於一個記憶儲存片或儲存卡中，拉出多條線，分別代表一個字碼中某些個字元。本論文提出兩種處理分包型記憶系統所發生之錯誤的校正碼。	zh_TW
dc.language.iso	zh_TW	en_US
dc.subject	分包型記憶系統	zh_TW
dc.subject	錯誤校正碼	zh_TW
dc.subject	資訊	zh_TW
dc.subject	電腦	zh_TW
dc.subject	電腦科學	zh_TW
dc.subject	INFORMATION	en_US
dc.subject	COMPUTER	en_US
dc.subject	INFORAMTION	en_US
dc.subject	COMPUTER-SCIENCE	en_US
dc.title	分包型記憶系統之錯誤校正碼	zh_TW
dc.type	Thesis	en_US
dc.contributor.department	資訊科學與工程研究所	zh_TW
顯示於類別：	畢業論文