標題: | 全像干涉術測量物體的移動和轉動 |
作者: | 魏漢東 Wei, Han-Dong 張明文 Zhang, Ming-Wen 電子研究所 |
關鍵字: | 全像干涉術;測量物體;移動和轉動;電子工程;ELECTRONIC-ENGINEERING |
公開日期: | 1979 |
摘要: | 本文中所提出的測量方法,和一般的全像干涉的方法不同。本文中所使用的方法是調 重現光束,使因物體的位移而產生條紋變寬,或者消逝。此外還用了另一個光源,當 作額外的重現光束,用來度量原先重現光束高的改變量。由此改變量可以推算出物體 的位移。 |
URI: | http://140.113.39.130/cdrfb3/record/nctu/#NT684430023 http://hdl.handle.net/11536/51170 |
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